電腦型智能電解庫侖測(cè)試儀/多層鎳電解膜厚儀/鎳封厚度測(cè)試儀CT-A智能型

1、測(cè)量范圍和精度：

0.01（0.0025）μｍ～50(100)μｍ ，≤ ±１０％ ，符 合 ISO2177-2003 、 GB/T 4955 — 2005 、 ASTMB504-90(2007)、B764-04(2009)(STEP)和國家標(biāo)準(zhǔn)。

2、測(cè)量對(duì)象：所有導(dǎo)電性覆蓋層

① 單金屬鍍層（如 Cu、Zn、Ni、Au、Ag、Cr、Sn、Cd、Pb）；

② 合金鍍層（如Ｐｂ-Ｓｎ 、Ｃｕ-Ｚｎ 、Ｎｉ-Ｐ 等合金）；③ 復(fù)合鍍層（如 Cu+Ni+Cr 等）；

④ 多鎳鍍層（STEP）;

⑤ 化學(xué)鍍鎳；

⑥ 絲材上鍍層。

測(cè)量范例：1、薄金 0.31μ〝(0.0079μm)

電腦型智能電解庫侖測(cè)試儀/多層鎳電解膜厚儀/鎳封厚度測(cè)試儀CT-A智能型高階功能：

1、化學(xué)鍍鎳：根據(jù)測(cè)量曲線形狀可判斷含磷量范圍，選擇正確的測(cè)量檔位進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。

2、 多層鎳：可測(cè)量各分層厚度、電位差，打印標(biāo)準(zhǔn)格式報(bào)告。數(shù)字化保存測(cè)量數(shù)據(jù)。

3、馬口鐵測(cè)量曲線。

測(cè)量曲線的形狀變化表達(dá)了材料表面及內(nèi)部的一系列相關(guān)信息?？筛鶕?jù)具體情況制作各種標(biāo)準(zhǔn)鍍層試樣，然后測(cè)量厚度，將結(jié)果作為標(biāo)準(zhǔn)曲線保存。日后將測(cè)量結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)曲線對(duì)比，及時(shí)發(fā)現(xiàn)問題。通常可根據(jù)曲線形狀、電位變化等分辨不同成份的鍍層、鍍液和添加劑的狀況。CT-A 電腦智能測(cè)厚儀可做材料的溶出曲線，進(jìn)行材料的溶出分析。并可進(jìn)行微細(xì)材料的電化學(xué)加工。更多的應(yīng)用等待您和我們的開發(fā)。

電腦型智能電解庫侖測(cè)試儀/多層鎳電解膜厚儀/鎳封厚度測(cè)試儀CT-A智能型主要配置：

標(biāo)準(zhǔn)配置： CT－A 測(cè)厚儀主機(jī)、測(cè)試臺(tái)架、附帶工具、 計(jì)算機(jī)連接電纜、配置 CT－A V2011 中文版控制軟件（多層鎳厚度及電位差，包括鎳封測(cè)量）

特點(diǎn)：用戶按自己意愿配接各種電腦，全功能，使用方便。

備注：測(cè)量電位差完全采用軟件控制，X－Y 函數(shù)記錄儀已經(jīng)淘汰。

選配件：CT－A V 中英文雙語版控制軟件（涉外企業(yè)非常實(shí)用，全英文界面、打印英文測(cè)試報(bào)告）；測(cè)量線材附件及軟件；小測(cè)量頭。

其他測(cè)試儀器：測(cè)厚儀高溫耦合劑、鐵素體測(cè)試儀。